GB/T 11073 Standardmethode zur Messung der radialen Widerstandsschwankung auf Siliziumscheiben
GB/T 14140 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von Halbleiterwafern
GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
GB/T 1550 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*, 2018-12-28 Aktualisieren
GB/T 1552 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium und Germanium mit einem kollinearen Vier-Sonden-Array
GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*, 2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 25076 Monokristallines Silizium für Solarzellen*, 2018-09-17 Aktualisieren
GB/T 26068 Messung der Ladungsträger-Rekombinationslebensdauer von Siliziumwafern und -barren, berührungslose Mikrowellenreflexions-Photoleitfähigkeits-Zerfallsmethode*, 2019-11-01 Aktualisieren
GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*, 2013-02-15 Aktualisieren
GB/T 6616 Berührungsloses Wirbelstromverfahren zum Testen des spezifischen Widerstands von Halbleiterwafern und des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen*, 2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 6618 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
GB/T 6620 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
GB/T 26071-2010 Veröffentlichungsverlauf
2018GB/T 26071-2018 Monokristalline Siliziumwafer für Solarzellen
2011GB/T 26071-2010 Monokristallines Silizium als geschnittene Scheiben für Photovoltaik-Solarzellen
GB/T 26071-2010 Monokristallines Silizium als geschnittene Scheiben für Photovoltaik-Solarzellen ha sido cambiado a CTI STD-137-2013 Pultrudierte Strukturprodukte aus Glasfaser zur Verwendung in Kühltürmen.