GB/T 26068-2018 Messung der Ladungsträger-Rekombinationslebensdauer von Siliziumwafern und -barren, berührungslose Mikrowellenreflexions-Photoleitfähigkeits-Zerfallsmethode (Englische Version)
2019GB/T 26068-2018 Messung der Ladungsträger-Rekombinationslebensdauer von Siliziumwafern und -barren, berührungslose Mikrowellenreflexions-Photoleitfähigkeits-Zerfallsmethode
2011GB/T 26068-2010 Testverfahren für die Trägerrekombinationslebensdauer in Siliziumwafern durch berührungslose Messung des Photoleitfähigkeitsabfalls durch Mikrowellenreflexion