GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*, 2013-02-15 Aktualisieren
GB/T 6618 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
GB/T 6620-2009 Veröffentlichungsverlauf
2009GB/T 6620-2009 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
1995GB/T 6620-1995 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen