GB/T 6618-2009
Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 6618-2009

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 6618-2009

Ersetzen

GB/T 6618-1995

GB/T 6618-2009 Normative Verweisungen

• GB/T 12964 Polierte Wafer aus monokristallinem Silizium*， 2018-09-17 Aktualisieren
• GB/T 12965 Monokristallines Silizium als geschnittene Wafer und geläppte Wafer*， 2018-09-17 Aktualisieren
• GB/T 14139 Silizium-Epitaxiewafer*， 2019-06-04 Aktualisieren
• GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*， 2013-02-15 Aktualisieren

GB/T 6618-2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2009 GB/T 6618-2009 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
• 1995 GB/T 6618-1995 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben