GB/T 30858-2014
Poliertes monokristallines Saphirsubstratprodukt (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 30858-2014
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2014
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 30858-2014

GB/T 30858-2014 Normative Verweisungen

  • GB/T 1031 Geometrische Produktspezifikationen (GPS).Oberflächentextur:Profilmethode.Oberflächenrauheitsparameter und ihre Werte
  • GB/T 13387 Testverfahren zur Messung flacher Wafer aus Silizium und anderen elektronischen Materialien
  • GB/T 14140 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von Halbleiterwafern
  • GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
  • GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*2023-08-06 Aktualisieren
  • GB/T 19921 Prüfmethode für Partikel auf polierten Siliziumwaferoberflächen*2018-12-28 Aktualisieren
  • GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)
  • GB/T 30857 Standardtestmethode für Dicke und Dickenschwankung auf Saphirsubstraten
  • GB/T 6619 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumwafern
  • GB/T 6620 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
  • GB/T 6624 Standardmethode zur Messung der Oberflächenqualität polierter Siliziumscheiben durch visuelle Inspektion

GB/T 30858-2014 Veröffentlichungsverlauf

Poliertes monokristallines Saphirsubstratprodukt



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