GB/T 6619-2009
Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumwafern (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 6619-2009

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2009

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 6619-2009

Ersetzen

GB/T 6619-1995

GB/T 6619-2009 Normative Verweisungen

• GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
• GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*， 2013-02-15 Aktualisieren

GB/T 6619-2009 Veröffentlichungsverlauf

• 2009 GB/T 6619-2009 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumwafern
• 1995 GB/T 6619-1995 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumscheiben