GB/T 29504-2013
300 mm monokristallines Silizium (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 29504-2013
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2013
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 29504-2013

GB/T 29504-2013 Normative Verweisungen

  • GB/T 11073-2007 Standardmethode zur Messung der radialen Widerstandsschwankung auf Siliziumscheiben
  • GB/T 14140 Testverfahren zur Messung des Durchmessers von Halbleiterwafern
  • GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
  • GB/T 1550 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*2018-12-28 Aktualisieren
  • GB/T 1551-2009 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium
  • GB/T 1554 Prüfverfahren für die kristallographische Perfektion von Silizium durch bevorzugte Ätztechniken
  • GB/T 1555 Methode zur Bestimmung der Kristallorientierung eines Halbleiter-Einkristalls*2023-08-06 Aktualisieren
  • GB/T 1557 Testverfahren zur Bestimmung des interstitiellen Sauerstoffgehalts in Silizium durch Infrarotabsorption*2018-09-17 Aktualisieren
  • GB/T 1558 Infrarot-Absorptionstestverfahren für den Gehalt an substituiertem Kohlenstoff in Silizium*2023-12-28 Aktualisieren
  • YS/T 679 Oberflächenphotospannungsmethode zur Messung der Diffusionslänge von Minoritätsträgern in extrinsischen Halbleitern*2018-10-22 Aktualisieren

GB/T 29504-2013 Veröffentlichungsverlauf

300 mm monokristallines Silizium



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