YS/T 679-2018
Oberflächenphotospannungsmethode zur Messung der Diffusionslänge von Minoritätsträgern in extrinsischen Halbleitern (Englische Version)

Standard-Nr.

YS/T 679-2018

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2018

Organisation

工业和信息化部

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YS/T 679-2008

YS/T 679-2018 Veröffentlichungsverlauf

• 2018 YS/T 679-2018 Oberflächenphotospannungsmethode zur Messung der Diffusionslänge von Minoritätsträgern in extrinsischen Halbleitern
• 2008 YS/T 679-2008 Testmethoden für die Diffusionslänge von Minoritätsträgern in extrinsischen Halbleitern durch Messung der stationären Oberflächenphotospannung