SAE J1752/3-2011
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen TEM/Breitband-TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)

Standard-Nr.

SAE J1752/3-2011

Erscheinungsdatum

2011

Organisation

Society of Automotive Engineers (SAE)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

SAE J1752/3-2017

Letzte Version

SAE J1752/3-2017

SAE J1752/3-2011 Normative Verweisungen

• IEC 61967 Integrierte Schaltkreise – Messung elektromagnetischer Emissionen – Teil 8: Messung abgestrahlter Emissionen – IC-Streifenleitungsverfahren*， 2023-05-03 Aktualisieren
• SAE J1752/1-2006 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen

SAE J1752/3-2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 SAE J1752/3-2017 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – TEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
• 2011 SAE J1752/3-2011 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen TEM/Breitband-TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
• 2003 SAE J1752/3-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten SchaltkreisenTEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
• 1995 SAE J1752/3-1995 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Tem/Wideband Tem (Gtem)-Zellmethode; Temperaturzelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-Temperaturzelle (150 kHz bis 8 GHz)

SAE J1752/3-2011 - alle Teile