SAE J1752/2-2016
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
Start
SAE J1752/2-2016
Standard-Nr.
SAE J1752/2-2016
Erscheinungsdatum
2016
Organisation
Society of Automotive Engineers (SAE)
Letzte Version
SAE J1752/2-2016
SAE J1752/2-2016 Veröffentlichungsverlauf
2016
SAE J1752/2-2016
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2011
SAE J1752/2-2011
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2003
SAE J1752/2-2003
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
1995
SAE J1752/2-1995
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
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