SAE J1752/3-2003
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten SchaltkreisenTEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
- Standard-Nr.
- SAE J1752/3-2003
- Erscheinungsdatum
- 2003
- Organisation
- Society of Automotive Engineers (SAE)
- Zustand
- ersetzt durch
- SAE J1752/3-2011
- Letzte Version
- SAE J1752/3-2017
SAE J1752/3-2003 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 SAE J1752/3-2017 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – TEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
- 2011 SAE J1752/3-2011 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen TEM/Breitband-TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
- 2003 SAE J1752/3-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten SchaltkreisenTEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)
- 1995 SAE J1752/3-1995 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Tem/Wideband Tem (Gtem)-Zellmethode; Temperaturzelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-Temperaturzelle (150 kHz bis 8 GHz)
SAE J1752/3-2003 - alle Teile
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