SAE J1752/1-2021
Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen

Standard-Nr.
SAE J1752/1-2021
Erscheinungsdatum
2021
Organisation
Society of Automotive Engineers (SAE)
Letzte Version
SAE J1752/1-2021

SAE J1752/1-2021 Veröffentlichungsverlauf

  • 2021 SAE J1752/1-2021 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen
  • 2016 SAE J1752/1-2016 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen
  • 2006 SAE J1752/1-2006 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen
  • 1997 SAE J1752/1-1997 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definition

SAE J1752/1-2021 - alle Teile

SAE J1752-1-2021 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise SAE J1752-2-2016 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz SAE J1752-3-2017 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise. Allgemeines und Definition der EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise SAE J1752/1-2021 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen SAE J1752/2-2016 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz SAE J1752/3-2017 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – TEM/Wideband TEM (GTEM)-Zellmethode; TEM-Zelle (150 kHz bis 1 GHz), Breitband-TEM-Zelle (150 kHz bis 8 GHz)


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