SAE J1752-2-2016
Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
- Standard-Nr.
- SAE J1752-2-2016
- Erscheinungsdatum
- 2016
- Organisation
- SAE - SAE International
- Letzte Version
- SAE J1752-2-2016
SAE J1752-2-2016 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 SAE J1752-2-2016 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
- 2011 SAE J1752-2-2011 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen, Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
- 2003 SAE J1752-2-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen. Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
- 1995 SAE J1752-2-1995 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – Diagnoseverfahren für abgestrahlte Emissionen integrierter Schaltkreise 1 MHz bis 1000 MHz@ Magnetfeld – Schleifensonde@ Empfohlene Praxis (März 1995)
