IEC 60749-4:2017
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
- Standard-Nr.
- IEC 60749-4:2017
- Erscheinungsdatum
- 2017
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60749-4:2017
- Ersetzen
- IEC 47/2346/FDIS:2016 IEC 60749-4:2002 IEC 60749-4 CORR 1:2003
IEC 60749-4:2017 Normative Verweisungen
- IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
IEC 60749-4:2017 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 IEC 60749-4:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
- 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze@ Steady State@ Hochbeschleunigter Stresstest (HAST) KORRIGENDUM 1 (Ausgabe 1.0)
- 2002 IEC 60749-4:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
