IEC 60749-4:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST) ha sido cambiado a IEC 60749:1996 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden.
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