IEC 60749-5:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

Standard-Nr.

IEC 60749-5:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden 2017-04

ersetzt durch

IEC 60749-5:2017

Letzte Version

IEC 60749-5:2023 RLV

Ersetzen

IEC 47/1661/FDIS:2002 IEC 60749:1996 IEC 60749 AMD 1:2000 IEC 60749 AMD 2:2001 IEC 60749 Edition 2.2:2002 IEC/PAS 62161:2000

IEC 60749-5:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 60749-5:2023 RLV
• 2017 IEC 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
• 2003 IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit ha sido cambiado a IEC 60749:1996 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden.