IEC 60749-4:2002/COR1:2003
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze@ Steady State@ Hochbeschleunigter Stresstest (HAST) KORRIGENDUM 1 (Ausgabe 1.0)

Standard-Nr.

IEC 60749-4:2002/COR1:2003

Erscheinungsdatum

2003

Organisation

IEC - International Electrotechnical Commission

Zustand

ersetzt werden 2017-03

ersetzt durch

IEC 60749-4:2017

Letzte Version

IEC 60749-4:2017

IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 IEC 60749-4:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)
• 2003 IEC 60749-4:2002/COR1:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden – Teil 4: Feuchte Hitze@ Steady State@ Hochbeschleunigter Stresstest (HAST) KORRIGENDUM 1 (Ausgabe 1.0)
• 2002 IEC 60749-4:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)