BS EN 62435-5:2017
Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente. - Teil 5: Die- und Wafer-Geräte
- Standard-Nr.
- BS EN 62435-5:2017
- Erscheinungsdatum
- 2017
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS EN 62435-5:2017
BS EN 62435-5:2017 Normative Verweisungen
- CLC/TR 62258-3 Halbleiterchip-Produkte – Teil 3: Empfehlungen für bewährte Verfahren bei Handhabung, Verpackung und Lagerung
- EN 60749-20-1 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Versand von oberflächenmontierten Bauelementen, die empfindlich auf die kombinierte Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme reagieren
- EN 60749-3 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung*， 2017-06-01 Aktualisieren
- EN 61340-2-1 Elektrostatik – Teil 2-1: Messmethoden – Fähigkeit von Materialien und Produkten, statische elektrische Ladung abzuleiten
- EN 61340-5-1 Elektrostatik – Teil 5-1: Schutz elektronischer Geräte vor elektrostatischen Phänomenen – Allgemeine Anforderungen*， 2017-05-26 Aktualisieren
- EN 62435-1 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 1: Allgemeines
- EN 62435-2 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 2: Verschlechterungsmechanismen
- IEC 60749-20-1 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Versand von oberflächenmontierten Bauelementen, die empfindlich auf die kombinierte Wirkung von Feuchtigkeit und Löten reagieren*， 2019-06-26 Aktualisieren
- IEC 60749-3 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 3: Äußere visuelle Prüfung
- IEC 61340-2-1 Änderung 1 – Elektrostatik – Teil 2-1: Messmethoden – Fähigkeit von Materialien und Produkten, statische elektrische Ladung abzuleiten*， 2022-01-01 Aktualisieren
- IEC 61340-5-1 Elektrostatik – Teil 5-1: Schutz elektronischer Geräte vor elektrostatischen Phänomenen – Allgemeine Anforderungen; Berichtigung 1*， 2017-05-01 Aktualisieren
- IEC 62435-1 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 1: Allgemeines
- IEC 62435-2 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 2: Verschlechterungsmechanismen
- IEC 62435-4 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 4: Lagerung*， 2018-06-01 Aktualisieren
- JEDEC JESD22-B116 Testmethode B116 Drahtbond-Schertest
- JEDEC JESD22-B118 Äußere Sichtprüfung der Rückseite von Halbleiterwafern und Chips
BS EN 62435-5:2017 Veröffentlichungsverlauf
- 2017 BS EN 62435-5:2017 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente. - Teil 5: Die- und Wafer-Geräte
