IEC 62435-2:2017
Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 2: Verschlechterungsmechanismen

Standard-Nr.

IEC 62435-2:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Letzte Version

IEC 62435-2:2017

Ersetzen

IEC 47/2327/FDIS:2016

IEC 62435-2:2017 Normative Verweisungen

• IEC 60749-20-1:2009 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 20-1: Handhabung, Verpackung, Kennzeichnung und Versand von oberflächenmontierten Bauelementen, die empfindlich auf die kombinierte Wirkung von Feuchtigkeit und Lötwärme reagieren

IEC 62435-2:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 2017 IEC 62435-2:2017 Elektronische Komponenten – Langzeitlagerung elektronischer Halbleiterbauelemente – Teil 2: Verschlechterungsmechanismen