DIN 32567-3:2014
Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- Standard-Nr.
- DIN 32567-3:2014
- Erscheinungsdatum
- 2014
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN 32567-3:2014-10
- Letzte Version
- DIN 32567-3:2014-10
- Ersetzen
- DIN 32567-3:2012
DIN 32567-3:2014 Normative Verweisungen
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- DIN EN ISO 12179:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächentextur: Profilmethode – Kalibrierung von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 12179:2000); Deutsche Fassung EN ISO 12179:2000
- DIN EN ISO 25178-601:2011 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Fläche - Teil 601: Nenneigenschaften von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 25178-601:2010); Deutsche Fassung EN ISO 25178-601:2010
- DIN EN ISO 3274:1998 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode – Nenneigenschaften von Kontaktinstrumenten (Stiftinstrumenten) (ISO 3274:1996); Deutsche Fassung EN ISO 3274:1997
- DIN EN ISO 5436-1:2000 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Oberflächenbeschaffenheit: Profilmethode; Messnormen – Teil 1: Materialmaße (ISO 5436-1:2000); Deutsche Fassung EN ISO 5436-1:2000
- VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Eigenschaften und deren Überprüfung - Abnahme- und Nachprüfungen für taktile KMG zur Messung von Mikrogeometrien
- VDI/VDE 2629 Blatt 1-2008 Genauigkeit von Konturmesssystemen - Merkmale und Merkmalsprüfung - Abnahmeprüfung und Nachprüfung von Konturmesssystemen nach dem Taststiftverfahren
- VDI/VDE 2655 Blatt 1.2-2010 Optische Messung der Mikrotopographie – Kalibrierung von konfokalen Mikroskopen und Tiefeneinstellnormalen zur Rauheitsmessung
- VDI/VDE 2656 Blatt 1-2008 Bestimmung geometrischer Größen mittels Rastersondenmikroskopen - Kalibrierung von Messsystemen
DIN 32567-3:2014 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 DIN 32567-3:2014-10 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 2014 DIN 32567-3:2014 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 1970 DIN 32567-3 E:2012-07 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 0000 DIN 32567-3:2012
