DIN 32567-3 E:2012-07
Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- Standard-Nr.
- DIN 32567-3 E:2012-07
- Erscheinungsdatum
- 1970
- Organisation
- /
- Zustand
- ersetzt durch
- DIN 32567-3:2014
- Letzte Version
- DIN 32567-3:2014-10
DIN 32567-3 E:2012-07 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 DIN 32567-3:2014-10 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 2014 DIN 32567-3:2014 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 1970 DIN 32567-3 E:2012-07 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
