DIN 32567-3:2014-10
Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- Standard-Nr.
- DIN 32567-3:2014-10
- Erscheinungsdatum
- 2014
- Organisation
- German Institute for Standardization
- Letzte Version
- DIN 32567-3:2014-10
DIN 32567-3:2014-10 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 DIN 32567-3:2014-10 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 2014 DIN 32567-3:2014 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 1970 DIN 32567-3 E:2012-07 Produktionsanlagen für Mikrosysteme - Bestimmung des Einflusses von Werkstoffen auf die optische und taktile Maßmesstechnik - Teil 3: Ableitung von Korrekturwerten für taktile Messgeräte
- 0000 DIN 32567-3:2012
