VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011
Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Eigenschaften und deren Überprüfung - Abnahme- und Nachprüfungen für taktile KMG zur Messung von Mikrogeometrien

Standard-Nr.
VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011
Erscheinungsdatum
2011
Organisation
Association of German Mechanical Engineers
Letzte Version
VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011
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VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2009

VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Normative Verweisungen

  • DIN EN ISO 10360-1:2003 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) - Abnahme- und Überprüfungsprüfungen für Koordinatenmessgeräte (KMG) - Teil 1: Vokabular (ISO 10360-1:2000 + Corr 1:2002) (einschließlich Corrigendum AC:2002); Deutsche Fassung EN ISO 10360- 1:2000+AC:2002
  • DIN EN ISO 14253-1:1999 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Prüfung durch Messung von Werkstücken und Messgeräten – Teil 1: Entscheidungsregeln zum Nachweis der Übereinstimmung oder Nichtkonformität mit Spezifikationen
  • DIN EN ISO 1:2002 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Standardreferenztemperatur für geometrische Produktspezifikationen und -verifizierung (ISO 1:2002); Deutsche Fassung EN ISO 1:2002
  • DIN EN ISO 3650:1999 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Längennormale – Endmaße (ISO 3650:1998); Deutsche Fassung EN ISO 3650:1998
  • DIN ISO/TS 23165:2008 Geometrische Produktspezifikationen (GPS) – Richtlinien für die Bewertung der Testunsicherheit von Koordinatenmessgeräten (KMG) (ISO/TS 23165:2006)
  • VDI 1000-2010 VDI-Richtlinienarbeit – Grundsätze und Vorgehensweisen

VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Veröffentlichungsverlauf

  • 2011 VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2011 Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Eigenschaften und deren Überprüfung - Abnahme- und Nachprüfungen für taktile KMG zur Messung von Mikrogeometrien
  • 2009 VDI/VDE 2617 Blatt 12.1-2009 Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Eigenschaften und deren Überprüfung - Abnahme- und Nachprüfungen für taktile KMG zur Messung von Mikrogeometrien
Genauigkeit von Koordinatenmessgeräten - Eigenschaften und deren Überprüfung - Abnahme- und Nachprüfungen für taktile KMG zur Messung von Mikrogeometrien



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