IEC 60749-10:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 10: Mechanischer Schock
IEC 60749-11:2002 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren - Teil 11: Schnelle Temperaturänderung; Zwei-Flüssigkeitsbad-Methode
IEC 60749-12:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 12: Vibration, variable Frequenz
IEC 60749-25:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 25: Temperaturwechsel
IEC 60749-26:2013 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 26: Prüfung der Empfindlichkeit gegenüber elektrostatischer Entladung (ESD) – Modell des menschlichen Körpers (HBM)
IEC 60749-6:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen
IEC 60749-7:2011 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 7: Messung des Innenfeuchtegehalts und Analyse anderer Restgase
IEC 60825-1:2007 Sicherheit von Laserprodukten – Teil 1: Geräteklassifizierung und Anforderungen
IEC 60950-1:2005 Geräte der Informationstechnik – Sicherheit – Teil 1: Allgemeine Anforderungen
IEC 61300-2-19:2012 Glasfaserverbindungsgeräte und passive Komponenten – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-19: Prüfungen – Feuchte Wärme (stationärer Zustand)
IEC 61300-2-48:2009 Glasfaserverbindungsgeräte und passive Komponenten – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-48: Prüfungen – Temperatur-Feuchtigkeitswechsel
IEC 61300-2-4:1995 Glasfaser-Verbindungsgeräte und passive Komponenten – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2–4: Prüfungen – Faser-/Kabel-Halterung
IEC Guide 107:2009 Elektromagnetische Verträglichkeit – Leitfaden für die Erstellung von Veröffentlichungen zur elektromagnetischen Verträglichkeit
IEC 62149-8:2014 Veröffentlichungsverlauf
2014IEC 62149-8:2014 Aktive faseroptische Komponenten und Geräte – Leistungsnorm – Teil 8: Geimpfte reflektierende optische Halbleiterverstärkergeräte