GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
GB/T 1550 Prüfverfahren für den Leitfähigkeitstyp von extrinsischen Halbleitermaterialien*, 2018-12-28 Aktualisieren
GB/T 1551 Testverfahren zur Messung des spezifischen Widerstands von einkristallinem Silizium – Inline-Vierpunktsonden- und Gleichstrom-Zweipunktsondenverfahren*, 2021-05-21 Aktualisieren
GB/T 2828.1 Prüfverfahren nach Zählprobenahme Teil 1: Stichprobenplan für die Chargenprüfung, abgerufen durch die Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL)*, 2013-02-15 Aktualisieren
GB/T 29054 Gießen multikristalliner Siliziumsteine für Photovoltaik-Solarzellen*, 2019-06-04 Aktualisieren
GB/T 6616 Berührungsloses Wirbelstromverfahren zum Testen des spezifischen Widerstands von Halbleiterwafern und des Schichtwiderstands von Halbleiterfilmen*, 2023-08-06 Aktualisieren
GB/T 6618 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
GB/T 6619 Prüfverfahren für die Biegung von Siliziumwafern
GB/T 29055-2012 Veröffentlichungsverlauf
2019GB/T 29055-2019 Multikristalline Siliziumwafer für Photovoltaik-Solarzellen
2012GB/T 29055-2012 Multikristalliner Siliziumwafer für Solarzellen