SAE J1752/1-2006 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – EMV-Messverfahren für integrierte Schaltkreise – Allgemeines und Definitionen
SAE J1752-2-2011 Veröffentlichungsverlauf
2016SAE J1752-2-2016 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2011SAE J1752-2-2011 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen, Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2003SAE J1752-2-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen. Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
1995SAE J1752-2-1995 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – Diagnoseverfahren für abgestrahlte Emissionen integrierter Schaltkreise 1 MHz bis 1000 MHz@ Magnetfeld – Schleifensonde@ Empfohlene Praxis (März 1995)