SAE J1752-2-1995
Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – Diagnoseverfahren für abgestrahlte Emissionen integrierter Schaltkreise 1 MHz bis 1000 MHz@ Magnetfeld – Schleifensonde@ Empfohlene Praxis (März 1995)

Standard-Nr.

SAE J1752-2-1995

Erscheinungsdatum

1995

Organisation

SAE - SAE International

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

SAE J1752-2-2003

Letzte Version

SAE J1752-2-2016

SAE J1752-2-1995 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 SAE J1752-2-2016 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 2011 SAE J1752-2-2011 Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen, Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 2003 SAE J1752-2-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen. Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 1995 SAE J1752-2-1995 Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – Diagnoseverfahren für abgestrahlte Emissionen integrierter Schaltkreise 1 MHz bis 1000 MHz@ Magnetfeld – Schleifensonde@ Empfohlene Praxis (März 1995)