SAE J1752-2-2003
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen. Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
Start
SAE J1752-2-2003
Standard-Nr.
SAE J1752-2-2003
Erscheinungsdatum
2003
Organisation
Society of Automotive Engineers (SAE)
Zustand
zurückziehen
ersetzt durch
SAE J1752-2-2011
Letzte Version
SAE J1752-2-2016
SAE J1752-2-2003 Veröffentlichungsverlauf
2016
SAE J1752-2-2016
Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächen-Scan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2011
SAE J1752-2-2011
Messung der abgestrahlten Emissionen von integrierten Schaltkreisen, Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
2003
SAE J1752-2-2003
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen. Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
1995
SAE J1752-2-1995
Verfahren zur Messung der elektromagnetischen Verträglichkeit für integrierte Schaltkreise – Diagnoseverfahren für abgestrahlte Emissionen integrierter Schaltkreise 1 MHz bis 1000 MHz@ Magnetfeld – Schleifensonde@ Empfohlene Praxis (März 1995)
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