GB/T 24581-2009
Testmethode zur Niedertemperatur-FT-IR-Analyse von einkristallinem Silizium auf III-V-Verunreinigungen (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 24581-2009
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2009
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2022-10
- ersetzt durch
- GB/T 24581-2022
- Letzte Version
- GB/T 24581-2022
GB/T 24581-2009 Normative Verweisungen
- ASTM E131 Standarddefinitionen von Begriffen und Symbolen im Zusammenhang mit der molekularen Spektroskopie
- ASTM E168 Standardpraktiken für allgemeine Techniken der quantitativen Infrarotanalyse
- ASTM E177 Standardpraxis für die Verwendung der Begriffe Präzision und Bias in ASTM-Testmethoden
- ASTM E275 Standardpraxis zur Beschreibung und Messung der Leistung von Ultraviolett-, sichtbaren und Nahinfrarot-Spektrophotometern
- GB/T 13389 Übung zur Umrechnung zwischen spezifischem Widerstand und Dotierstoffdichte für mit Bor, Phosphor und Arsen dotiertes Silizium*， 2014-12-31 Aktualisieren
- GB/T 14264 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
- GB/T 1558 Infrarot-Absorptionstestverfahren für den Gehalt an substituiertem Kohlenstoff in Silizium*， 2023-12-28 Aktualisieren
- GB/T 6618 Prüfverfahren für Dicke und Gesamtdickenschwankung von Siliziumscheiben
GB/T 24581-2009 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 GB/T 24581-2022 Testmethode für Ⅲ und Ⅴ Verunreinigungen in einkristallinem Silizium – Niedertemperatur-FT-IR-Analysemethode
- 2009 GB/T 24581-2009 Testmethode zur Niedertemperatur-FT-IR-Analyse von einkristallinem Silizium auf III-V-Verunreinigungen
