GB/T 17473.7-2008
Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Lötbarkeit und Lötbeständigkeit (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 17473.7-2008
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2008
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2022-10
- ersetzt durch
- GB/T 17473.7-2022
- Letzte Version
- GB/T 17473.7-2022
- Ersetzen
- GB/T 17473.7-1998
GB/T 17473.7-2008 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung
- 2008 GB/T 17473.7-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Lötbarkeit und Lötbeständigkeit
- 1998 GB/T 17473.7-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Test der Lötbarkeit und Beständigkeit gegen Lotauslaugung
GB/T 17473.7-2008 - alle Teile
GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
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GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.5-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.6-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung