GB/T 17473.7-2022
Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 17473.7-2022
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2022
Organisation
国家市场监督管理总局、中国国家标准化管理委员会
Letzte Version
GB/T 17473.7-2022
Ersetzen
GB/T 17473.7-2008

GB/T 17473.7-2022 Normative Verweisungen

GB/T 17473.7-2022 Veröffentlichungsverlauf

  • 2022 GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung
  • 2008 GB/T 17473.7-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Lötbarkeit und Lötbeständigkeit
  • 1998 GB/T 17473.7-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Test der Lötbarkeit und Beständigkeit gegen Lotauslaugung
Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung

GB/T 17473.7-2022 - alle Teile

GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts GB/T 17473.2-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit GB/T 17473.3-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung GB/T 17473.5-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität GB/T 17473.6-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung


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