GB/T 17473.1-2008
Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts (Englische Version)

Standard-Nr.

GB/T 17473.1-2008

Sprachen

Chinesisch, Verfügbar auf Englisch

Erscheinungsdatum

2008

Organisation

General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China

Letzte Version

GB/T 17473.1-2008

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GB/T 17473.1-1998

GB/T 17473.1-2008 Normative Verweisungen

• GB/T 8170 Regeln zum Runden von Zahlenwerten & Ausdruck und Beurteilung von Grenzwerten*， 2008-07-16 Aktualisieren

GB/T 17473.1-2008 Veröffentlichungsverlauf

• 2008 GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
• 1998 GB/T 17473.1-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung des Feststoffgehalts

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