GB/T 17473.4-2008
Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 17473.4-2008
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2008
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version
GB/T 17473.4-2008
Ersetzen
GB/T 17473.4-1998

GB/T 17473.4-2008 Normative Verweisungen

  • GB/T 8170 Regeln zum Runden von Zahlenwerten & Ausdruck und Beurteilung von Grenzwerten*2008-07-16 Aktualisieren

GB/T 17473.4-2008 Veröffentlichungsverlauf

  • 2008 GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
  • 1998 GB/T 17473.4-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten für Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Haftung
Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung

GB/T 17473.4-2008 - alle Teile




© 2024 Alle Rechte vorbehalten.