GB/T 17472-2008
Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 17472-2008
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 2008
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2023-05
- ersetzt durch
- GB/T 17472-2022
- Letzte Version
- GB/T 17472-2022
- Ersetzen
- GB/T 17472-1998
GB/T 17472-2008 Normative Verweisungen
- GB/T 13452.2 Farben und Lacke. Bestimmung der Schichtdicke*， 2008-05-14 Aktualisieren
- GB/T 17473.1 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
- GB/T 17473.2 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit
- GB/T 17473.3 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands
- GB/T 17473.4 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
- GB/T 17473.5 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität
- GB/T 17473.6 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
- GB/T 17473.7 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung*， 2022-03-09 Aktualisieren
- GB/T 19445 Produkte aus Edelmetallen und deren Legierungen – Verpackungskennzeichnung, Transport und Lagerung
- GB/T 6739 Farben und Lacke – Bestimmung der Filmhärte mittels Bleistifttest*， 2022-12-30 Aktualisieren
GB/T 17472-2008 Veröffentlichungsverlauf
- 2022 GB/T 17472-2022 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
- 2008 GB/T 17472-2008 Spezifikation für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik
- 1998 GB/T 17472-1998 Spezifikation für Pasten aus Edelmetallen
