GB/T 17473.6-1998
Testmethoden für Edelmetallpasten für die Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Auflösung (Englische Version)
Start
GB/T 17473.6-1998
Standard-Nr.
GB/T 17473.6-1998
Sprachen
Chinesisch,
Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1998
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Zustand
ersetzt werden
2008-09
ersetzt durch
GB/T 17473.6-2008
Letzte Version
GB/T 17473.6-2008
GB/T 17473.6-1998 Veröffentlichungsverlauf
2008
GB/T 17473.6-2008
Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
1998
GB/T 17473.6-1998
Testmethoden für Edelmetallpasten für die Dickschicht-Mikroelektronik – Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.6-1998 - alle Teile
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