GB/T 17473.3-1998
Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung des Schichtwiderstands (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 17473.3-1998
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1998
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2008-09
- ersetzt durch
- GB/T 17473.3-2008
- Letzte Version
- GB/T 17473.3-2008
GB/T 17473.3-1998 Veröffentlichungsverlauf
- 2008 GB/T 17473.3-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands
- 1998 GB/T 17473.3-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.3-1998 - alle Teile
GB/T 17473.1-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Feststoffgehalts
GB/T 17473.2-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.3-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung des Schichtwiderstands
GB/T 17473.4-2008 Prüfmethoden für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Haftung
GB/T 17473.5-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Viskosität
GB/T 17473.6-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Auflösung
GB/T 17473.7-2022 Prüfverfahren für Edelmetallpasten für die Mikroelektronik – Teil 7: Bestimmung der Lötbarkeit und der Beständigkeit gegen Lotauslaugung