GB/T 17473.2-1998
Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Feinheit (Englische Version)
- Standard-Nr.
- GB/T 17473.2-1998
- Sprachen
- Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
- Erscheinungsdatum
- 1998
- Organisation
- General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
- Zustand
- 2008-09
- ersetzt durch
- GB/T 17473.2-2008
- Letzte Version
- GB/T 17473.2-2008
GB/T 17473.2-1998 Veröffentlichungsverlauf
- 2008 GB/T 17473.2-2008 Prüfverfahren für Edelmetallpasten in der Mikroelektronik. Bestimmung der Feinheit
- 1998 GB/T 17473.2-1998 Testmethoden für Edelmetallpasten, die für Dickschicht-Mikroelektronik verwendet werden – Bestimmung der Feinheit
GB/T 17473.2-1998 - alle Teile
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