2002IEC 60749:2002 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden
2001IEC 60749/AMD2:2001 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 2
2000IEC 60749/AMD1:2000 Halbleiterbauelemente - Mechanische und klimatische Prüfverfahren; Änderung 1
1996IEC 60749:1996 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden
1993IEC 60749/AMD2:1993 Halbleiterbauelemente; mechanische und klimatische Prüfmethoden; Änderung 2
1991IEC 60749/AMD1:1991 Halbleiterbauelemente; mechanische und klimatische Prüfmethoden; Änderung 1
1984IEC 60749:1984 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Prüfmethoden
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