SAE J1752/2-1995
Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz

Standard-Nr.

SAE J1752/2-1995

Erscheinungsdatum

1995

Organisation

Society of Automotive Engineers (SAE)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

SAE J1752/2-2003

Letzte Version

SAE J1752/2-2016

SAE J1752/2-1995 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 SAE J1752/2-2016 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 2011 SAE J1752/2-2011 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 2003 SAE J1752/2-2003 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz
• 1995 SAE J1752/2-1995 Messung abgestrahlter Emissionen von integrierten Schaltkreisen – Oberflächenscan-Methode (Loop-Probe-Methode) 10 MHz bis 3 GHz

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