IEC 60749-5:2017
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit

Standard-Nr.

IEC 60749-5:2017

Erscheinungsdatum

2017

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

ersetzt werden

ersetzt durch

IEC 60749-5:2023 RLV

Letzte Version

IEC 60749-5:2023 RLV

Ersetzen

IEC 47/2367/FDIS:2017 IEC 60749-5:2003

IEC 60749-5:2017 Normative Verweisungen

• IEC 60749-4:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 4: Feuchte Hitze, stationärer, hochbeschleunigter Stresstest (HAST)

IEC 60749-5:2017 Veröffentlichungsverlauf

• 0000 IEC 60749-5:2023 RLV
• 2017 IEC 60749-5:2017 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit
• 2003 IEC 60749-5:2003 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 5: Lebensdauertest bei stationärer Temperatur und Luftfeuchtigkeit