IEC 60747-2:2016
Halbleiterbauelemente – Teil 2: Diskrete Bauelemente – Gleichrichterdioden
- Standard-Nr.
- IEC 60747-2:2016
- Erscheinungsdatum
- 2016
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60747-2:2016
- Ersetzen
- IEC 47E/531/FDIS:2015 IEC 60747-2:2000
IEC 60747-2:2016 Normative Verweisungen
- IEC 60050-521:2002 Internationales elektrotechnisches Vokabular – Teil 521: Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise
- IEC 60747-1:2006 Halbleiterbauelemente – Teil 1: Allgemeines
- IEC 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 23: Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
- IEC 60749-34:2010 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 34: Leistungswechsel
IEC 60747-2:2016 Veröffentlichungsverlauf
- 2016 IEC 60747-2:2016 Halbleiterbauelemente – Teil 2: Diskrete Bauelemente – Gleichrichterdioden
- 2000 IEC 60747-2:2000 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 2: Gleichrichterdioden
- 1993 IEC 60747-2/AMD2:1993 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise; Teil 2: Gleichrichterdioden; Änderung 2
- 1992 IEC 60747-2/AMD1:1992 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise; Teil 2: Gleichrichterdioden; Änderung 1
- 1983 IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden
