IEC 60747-2:1983
Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden

Standard-Nr.

IEC 60747-2:1983

Erscheinungsdatum

1983

Organisation

International Electrotechnical Commission (IEC)

Zustand

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ersetzt durch

IEC 60747-2/AMD1:1992

Letzte Version

IEC 60747-2:2016

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IEC 60147-1:1972 IEC 60147-1F:1973 IEC 60147-1H:1981 IEC 60147-1J:1981 IEC 60147-2:1963 IEC 60147-2B:1970 IEC 60147-2C:1970 IEC 60147-2F:1974 IEC 60147-2K:1978 IEC 60147-2M:1980 IEC 60147-3:1970 IEC 60147-3A:1973 IEC 60147-4:1976 IEC 60147-1G:1975 IEC 601

IEC 60747-2:1983 Veröffentlichungsverlauf

• 2016 IEC 60747-2:2016 Halbleiterbauelemente – Teil 2: Diskrete Bauelemente – Gleichrichterdioden
• 2000 IEC 60747-2:2000 Halbleiterbauelemente – Diskrete Bauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 2: Gleichrichterdioden
• 1993 IEC 60747-2/AMD2:1993 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise; Teil 2: Gleichrichterdioden; Änderung 2
• 1992 IEC 60747-2/AMD1:1992 Halbleiterbauelemente; diskrete Geräte und integrierte Schaltkreise; Teil 2: Gleichrichterdioden; Änderung 1
• 1983 IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden

IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden ha sido cambiado a IEC 60147-1:1972 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 1: Wesentliche Bewertungen und Merkmale.

IEC 60747-2:1983 Halbleiterbauelemente. Diskrete Geräte. Teil 2: Gleichrichterdioden ha sido cambiado a IEC 60147-1F:1973 Wesentliche Nennwerte und Eigenschaften von Halbleiterbauelementen und allgemeine Prinzipien der Messmethoden. Teil 1: Wesentliche Bewertungen und Merkmale..

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