BS EN 62149-2:2014
Aktive Glasfaserkomponenten und -geräte. Leistungsstandards. 850 nm diskrete oberflächenemittierende Lasergeräte mit vertikalem Hohlraum
- Standard-Nr.
- BS EN 62149-2:2014
- Erscheinungsdatum
- 2014
- Organisation
- British Standards Institution (BSI)
- Letzte Version
- BS EN 62149-2:2014
- Ersetzen
- BS EN 62149-2:2009
BS EN 62149-2:2014 Normative Verweisungen
- EN 60191 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen
- EN 60747-5-1 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente – Allgemeines (einschließlich Änderungen A1:2002 + A2:2002) (IEC 60747-5-1:1997 + A1:2001 + A2:2002)
- EN 60749 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Testmethoden (Enthält Änderungen A1: 2000 und A2: 2001)
- EN 60749-6 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen*， 2017-06-16 Aktualisieren
- EN 60749-7 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 7: Messung des Innenfeuchtegehalts und Analyse anderer Restgase
- EN 60825 Strahlungssicherheit von Laserprodukten @ Geräteklassifizierung @ Anforderungen und Benutzerhandbuch
- EN 60825-1 Sicherheit von Laserprodukten – Teil 1: Geräteklassifizierung und Anforderungen*， 2019-03-01 Aktualisieren
- EN 60950-1 Geräte der Informationstechnik – Sicherheit Teil 1: Allgemeine Anforderungen Enthält Änderung A1: 2010
- EN 61300-2-4 Glasfaser-Verbindungsgeräte und passive Komponenten, grundlegende Test- und Messverfahren, Teil 2-4: Tests – Faser-/Kabel-Retention
- IEC 60191 Mechanische Normung von Halbleiterbauelementen – Teil 6: Allgemeine Regeln für die Erstellung von Umrisszeichnungen von oberflächenmontierten Halbleiterbauelementgehäusen
- IEC 60747-5-1 Diskrete Halbleiterbauelemente und integrierte Schaltkreise – Teil 5-1: Optoelektronische Bauelemente; Allgemein
- IEC 60749 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfmethoden
- IEC 60749-6 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 6: Lagerung bei hohen Temperaturen*， 2017-03-01 Aktualisieren
- IEC 60749-7 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Teil 7: Messung des Innenfeuchtegehalts und Analyse anderer Restgase
- IEC 60825 Sicherheit von Laserprodukten – ALLE TEILE*， 2018-01-08 Aktualisieren
- IEC 60825-1 Interpretationsblatt 2 – Sicherheit von Laserprodukten – Teil 1: Geräteklassifizierung und Anforderungen*， 2017-12-19 Aktualisieren
- IEC 60874 Steckverbinder für optische Fasern und Kabel; Teil 9: Rahmenspezifikation für Glasfasersteckverbinder; Typ OF-2
- IEC 60950-1 Geräte der Informationstechnik – Sicherheit – Teil 1: Allgemeine Anforderungen*， 2024-03-30 Aktualisieren
- IEC 61280-1-3 Testverfahren für Glasfaser-Kommunikationssubsysteme – Teil 1-3: Allgemeine Kommunikationssubsysteme – Messung der zentralen Wellenlänge, der Spektralbreite und zusätzlicher spektraler Eigenschaften*， 2021-07-05 Aktualisieren
- IEC 61300-2-4 Änderung 1 – Glasfaserverbindungsgeräte und passive Komponenten – Grundlegende Prüf- und Messverfahren – Teil 2-4: Prüfungen – Faser- oder Kabelhalterung*， 2020-01-01 Aktualisieren
- IEC 62007-1 Änderung 1 – Optoelektronische Halbleitergeräte für Glasfasersystemanwendungen – Teil 1: Spezifikationsvorlage für wesentliche Nennwerte und Merkmale*， 2022-09-22 Aktualisieren
- IEC 62007-2 Optoelektronische Halbleiterbauelemente für faseroptische Systemanwendungen – Teil 2: Messmethoden
- IEC 62148-1 Aktive Glasfaserkomponenten und -geräte – Paket- und Schnittstellenstandards – Teil 1: Allgemeines und Leitlinien*， 2017-08-31 Aktualisieren
- IEC 62149-1 Aktive Glasfaserkomponenten und -geräte – Leistungsstandards – Teil 1: Allgemeines und Leitlinien
- IEC Guide 107 Elektromagnetische Verträglichkeit – Leitfaden für die Erstellung von Veröffentlichungen zur elektromagnetischen Verträglichkeit
BS EN 62149-2:2014 Veröffentlichungsverlauf
- 2014 BS EN 62149-2:2014 Aktive Glasfaserkomponenten und -geräte. Leistungsstandards. 850 nm diskrete oberflächenemittierende Lasergeräte mit vertikalem Hohlraum
- 2010 BS EN 62149-2:2009 Aktive faseroptische Komponenten und Geräte – Leistungsstandards – 850 nm diskrete oberflächenemittierende Lasergeräte mit vertikalem Hohlraum
