SJ/T 11470-2014
Epitaktische Wafer aus Leuchtdioden (Englische Version)

Standard-Nr.
SJ/T 11470-2014
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
2014
Organisation
Professional Standard - Electron
Letzte Version
SJ/T 11470-2014

SJ/T 11470-2014 Normative Verweisungen

  • GB/T 14264-2009 Halbleitermaterialien – Begriffe und Definitionen
  • GB/T 2828.1-2003 Probenahmeverfahren für die Prüfung nach Merkmalen – Teil 1: Stichprobenpläne, indexiert nach der Akzeptanzqualitätsgrenze (AQL) für die Prüfung von Los zu Los
  • SJ/T 11395-2009 Terminologie der Halbleiterbeleuchtung
  • SJ/T 11396-2009 Die Saphirsubstrate für Leuchtdioden auf Nitridbasis
  • SJ/T 11471-2014 Messmethoden für epitaktische Wafer von Leuchtdioden

SJ/T 11470-2014 Veröffentlichungsverlauf




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