BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden. Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen

Standard-Nr.

BS EN 60749-23:2004+A1:2011

Erscheinungsdatum

2004

Organisation

British Standards Institution (BSI)

Letzte Version

BS EN 60749-23:2004+A1:2011

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02/206196 DC-2002 BS EN 60749-23:2004

BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Normative Verweisungen

• IEC 60747 Halbleiterbauelemente – Teil 9: Diskrete Bauelemente – Bipolartransistoren mit isoliertem Gate (IGBTs)*， 2019-11-13 Aktualisieren

BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Veröffentlichungsverlauf

• 2004 BS EN 60749-23:2004+A1:2011 Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden. Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
• 2004 BS EN 60749-23:2004 Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen