BS EN 60749-23:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
Start
BS EN 60749-23:2004
Standard-Nr.
BS EN 60749-23:2004
Erscheinungsdatum
2004
Organisation
British Standards Institution (BSI)
Zustand
ersetzt werden
2004-06
ersetzt durch
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Letzte Version
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
BS EN 60749-23:2004 Veröffentlichungsverlauf
2004
BS EN 60749-23:2004+A1:2011
Halbleiterbauelemente. Mechanische und klimatische Testmethoden. Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
2004
BS EN 60749-23:2004
Halbleiterbauelemente – Mechanische und klimatische Prüfverfahren – Betriebslebensdauer bei hohen Temperaturen
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