GB/T 6620-1995
Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen (Englische Version)

Standard-Nr.
GB/T 6620-1995
Sprachen
Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum
1995
Organisation
General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Zustand
 2010-06
ersetzt durch
GB/T 6620-2009
Letzte Version
GB/T 6620-2009

GB/T 6620-1995 Veröffentlichungsverlauf

  • 2009 GB/T 6620-2009 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
  • 1995 GB/T 6620-1995 Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen
Testverfahren zur Messung der Verformung von Siliziumscheiben durch berührungsloses Scannen



© 2024 Alle Rechte vorbehalten.