GB/T 22319.8-2008
Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten (Englische Version)

Standard-Nr.: GB/T 22319.8-2008
Sprachen: Chinesisch, Verfügbar auf Englisch
Erscheinungsdatum: 2008
Organisation: General Administration of Quality Supervision, Inspection and Quarantine of the People‘s Republic of China
Letzte Version: GB/T 22319.8-2008

GB/T 22319.8-2008 Normative Verweisungen

IEC 60444-1:1986 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Netzwerk
IEC 60444-2:1980 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
IEC 60444-5:1995 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern – Teil 5: Methoden zur Bestimmung äquivalenter elektrischer Parameter mithilfe automatischer Netzwerkanalysatortechniken und Fehlerkorrektur
IEC 61240:1994 Piezoelektrische Geräte – Erstellung von Umrisszeichnungen oberflächenmontierter Geräte (SMD) zur Frequenzsteuerung und -auswahl – Allgemeine Regeln

2008 GB/T 22319.8-2008 Messung der Parameter von Quarzkristalleinheiten. Teil 8: Prüfvorrichtung für oberflächenmontierte Quarzkristalleinheiten