IEC 60444-1:1986
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Netzwerk
- Standard-Nr.
- IEC 60444-1:1986
- Erscheinungsdatum
- 1986
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Zustand
- 2008-01
- ersetzt durch
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
- Letzte Version
- IEC 60444-1:1986/AMD1:1999
IEC 60444-1:1986 Veröffentlichungsverlauf
- 1999 IEC 60444-1:1986/AMD1:1999 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk - Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Änderung
- 1986 IEC 60444-1:1986 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 1: Grundlegende Methode zur Messung der Resonanzfrequenz und des Resonanzwiderstands von Quarzkristalleinheiten mittels Nullphasentechnik in einem Netzwerk
