IEC 60444-2:1980
Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
- Standard-Nr.
- IEC 60444-2:1980
- Erscheinungsdatum
- 1980
- Organisation
- International Electrotechnical Commission (IEC)
- Letzte Version
- IEC 60444-2:1980
IEC 60444-2:1980 Veröffentlichungsverlauf
- 1980 IEC 60444-2:1980 Messung von Quarzkristall-Einheitsparametern mittels Nullphasentechnik in einem -Netzwerk; Teil 2: Phasenversatzverfahren zur Messung der Bewegungskapazität von Quarzkristalleinheiten
